Каталог товаров
Назад
Назад
Назад
Назад
Вернуться в каталог

Система высокого и сверхвысокого разрешения Nikon N-SIM

В избранное
В сравнение
Цена по запросу
Под заказ
Добавить в корзину
Запросить КП
Описание
Характеристики
  • Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti
  • Уникальные оптические технологии и методы производства
  • Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы
  • Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр
  • Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti
  • Уникальные оптические технологии и методы производства
  • Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы
  • Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр
  • Система высокого разрешения серии Super-Resolution

    Визуализация клеточных структур и молекулярной активности при разрешении, недоступном для обычной световой микроскопии

    • Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti
    • Уникальные оптические технологии и методы производства
    • Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы
    • Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр

    Система высокого разрешения серии Super-Resolution

    Система высокого разрешения серии Super-Resolution

    Визуализация клеточных структур и молекулярной активности при разрешении, недоступном для обычной световой микроскопии

    • Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti
    • Уникальные оптические технологии и методы производства
    • Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы
    • Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр
  • Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti
  • Уникальные оптические технологии и методы производства
  • Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы
  • Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр
  • Почти в два раза более высокое разрешение по сравнению с обычными оптическими микроскопами

    Благодаря использованию лицензированной UCSF технологии "микроскопии структурированного освещения" система микроскопии N-SIM от Nikon, оснащенная прославленым объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1,49), разработанным при помощи уникальных оптических технологий и методов, может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.

    Максимальная скорость среди аналогов – 0,6 с/кадр

    Система N-SIM очень эффективна для получения изображений клеток в режиме реального времени с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.

    Метод получения изображений TIRF-SIM

    Новая методика освещения TIRF-SIM позволяет проводить наблюдения по методу флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с более высоким разрешением, чем обычные микроскопы TIRF, и получать более детальную информацию о зонах вблизи клеточных мембран. 

    Методика 3D-SIM

    Новая методика освещения 3D-SIM позволяет делать оптические срезы образцов, за счет чего возможна визуализация более сложных клеточных структур при более высоком пространственном разрешении до 20 мкм

    Почти в два раза более высокое разрешение по сравнению с обычными оптическими микроскопами

    Благодаря использованию лицензированной UCSF технологии "микроскопии структурированного освещения" система микроскопии N-SIM от Nikon, оснащенная прославленым объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1,49), разработанным при помощи уникальных оптических технологий и методов, может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.

    Максимальная скорость среди аналогов – 0,6 с/кадр

    Система N-SIM очень эффективна для получения изображений клеток в режиме реального времени с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.

    Метод получения изображений TIRF-SIM

    Новая методика освещения TIRF-SIM позволяет проводить наблюдения по методу флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с более высоким разрешением, чем обычные микроскопы TIRF, и получать более детальную информацию о зонах вблизи клеточных мембран. 

    Методика 3D-SIM

    Новая методика освещения 3D-SIM позволяет делать оптические срезы образцов, за счет чего возможна визуализация более сложных клеточных структур при более высоком пространственном разрешении до 20 мкм

    Производитель

    Nikon